Ujian lonjakan ialah kaedah menguji voltan atau arus sementara litar atau peranti.
Dalam reka bentuk dan pembuatan cip, pelbagai gangguan elektromagnet seperti lonjakan dan kejadian lain yang tidak dijangka sering dihadapi. Peristiwa ini boleh merosakkan struktur litar di dalam cip, menyebabkan cip gagal atau berfungsi tidak stabil.
Punca lonjakan cip kuasa?
1. Bekalan kuasa pensuisan dan perubahan voltan secara tiba-tiba
Apabila suis kuasa, disebabkan oleh pelepasan kapasitor serta-merta, kenaikan voltan ringkas akan berlaku dalam litar, mengakibatkan peningkatan arus yang singkat, yang akan menyebabkan fenomena arus lonjakan. Dalam sistem kuasa, perubahan voltan mendadak yang disebabkan oleh kilat yang kuat juga boleh menyebabkan penjanaan lonjakan.
2. Proses sementara peralatan kuasa
Apabila peralatan elektrik bermula, berhenti, atau berjalan, akan berlaku kenaikan voltan yang singkat, dan pensuisan suis mekanikal juga boleh menyebabkan penjanaan arus lonjakan.
3. Kerosakan litar pintas
Apabila terdapat kerosakan litar pintas dalam litar, sama ada dalam rangkaian pengedaran voltan rendah atau talian penghantaran voltan tinggi, ia akan menyebabkan kenaikan arus serta-merta, yang kebanyakannya adalah arus lonjakan.
Arus lonjakan boleh menyebabkan kerosakan yang ketara pada litar dan peranti elektronik, termasuk kerosakan peranti, litar pintas, dsb. Apabila sejumlah besar arus lonjakan mengalir melalui litar, ia akan menyebabkan pengumpulan dan pelepasan cas sementara, dan menghasilkan puncak voltan tinggi, yang menyebabkan kerosakan besar pada peranti elektronik.
Ujian lonjakanboleh mengesan sama ada cip boleh menahan gangguan lonjakan, seperti arus, voltan, masa dan parameter lain, untuk menentukan sama ada produk yang diuji boleh berfungsi dengan normal.
Semasa menjalankan ujian lonjakan, kita perlu menggunakan instrumen pengukur profesional seperti penjana lonjakan, probe pembezaan, gelung arus dan peranti instrumen lain. Operator perlu mematuhi spesifikasi penggunaan dan prosedur ujian instrumen ujian dengan ketat untuk memastikan ketepatan dan kebolehpercayaan data ujian.
Ujian lonjakan dan kaedah ujian
1. Sediakan penjana lonjakan, probe pembezaan, gelung arus, osiloskop, bekalan kuasa dan peranti instrumen lain. Sediakan voltan dan arus kepada cip melalui bekalan kuasa, dan osiloskop menguji arus lonjakan pada output cip.
2. Tentukan rancangan ujian dan laksanakannya. Sebelum ujian, pelan ujian terperinci perlu dibangunkan, termasuk parameter yang berkaitan seperti voltan ujian, masa ujian dan kekerapan ujian. Selepas rancangan ujian selesai, ujian boleh dimulakan.
3. Analisis dan pemprosesan data. Selepas ujian selesai, analisis data dan pemprosesan keputusan ujian diperlukan untuk menentukan keupayaan cip untuk menahan lonjakan dan cara meningkatkan kestabilan dan kebolehpercayaannya.
Bagi perusahaan pembuatan produk elektronik, perlu mengikuti proses ujian dan piawaian yang berkaitan dengan ketat untuk memastikan ketepatan dan kebolehpercayaan keputusan ujian.
EMCSOSIN telah komited dalam bidang ujian EMC, yang mengkhusus dalam menyediakan instrumen ujian EMC, pembetulan produk dan perkhidmatan latihan. Peralatan EMC kami yang dibangunkan sendiri termasuk: simulator ESD, penjana EFT/letusan, penjana lonjakan, penjana penurunan voltan, penjana medan magnet frekuensi kuasa, penjana gelombang berayun terlembap, simulator nadi automotif dan lain-lain. EMCSOSIN juga menyediakan pelanggan dengan penyelesaian penyepaduan sistem EMC profesional. Sila jangan teragak-agak untuk menghubungi kami untuk butiran. terima kasih!
